HOME
│ 產品搜尋
搜尋
繁體中文
简体中文
English
關於宏明
TAF認證實驗室
最新消息
產品資訊
樣品量測服務
聯絡我們
友站連結
關於宏明
TAF認證實驗室
最新消息
產品資訊
樣品量測服務
聯絡我們
友站連結
首頁
> 光學檢測 > 穿透、反射、霧度 、色度
MFS-630-DUV
可變角度絕對穿透反射量測系統
波長範圍
190-510nm, 或依客戶需求訂製
光學解晰度
1-5nm
分光方式
單光儀
接收模式
DUV Silicon sensor
光源
氘燈
檢測速度
全光譜範圍30min
檢測平台
固定式平台,或依客戶需求訂製
適用樣品:
玻璃、壓克力、PET、RGB彩色濾光片、光學鍍膜片、鏡片、
反射鏡、擴散片、Solar Cell、IR cut、偏光片、鏡頭 及生物晶片等各類樣品
介紹
〈 返回列表
│
下一筆